標準信息

標準號：

GB/T 41765-2022

標準名稱：

碳化硅單晶位錯密度的測試方法

發布日期：

2022-10-14

實施日期：

2023-05-01

批發部門：

國家標準化管理委員會

歸口單位：

全國半導體設備和材料標準化技術委員會

起草單位：

北京天科合達半導體股份有限公司、有色金屬技術經濟研究院有限責任公司

起草人：

彭同華、佘宗靜、趙寧、王波、李素青、婁艷芳、王大軍、郭鈺、楊建

標準簡介

本文件規定了碳化硅單晶位錯密度的測試方法。

本文件適用于晶面偏離{0001}面、偏向{1120}方向0°~8°的碳化硅單晶位錯密度的測試。

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檢測優勢

檢測資質（部分）

檢測流程

1、中析檢測收到客戶的檢測需求委托。

2、確立檢測目標和檢測需求

3、所在實驗室檢測工程師進行報價。

4、客戶前期寄樣，將樣品寄送到相關實驗室。

5、工程師對樣品進行樣品初檢、入庫以及編號處理。

6、確認檢測需求，簽定保密協議書，保護客戶隱私。

7、成立對應檢測小組，為客戶安排檢測項目及試驗。

8、7-15個工作日完成試驗，具體日期請依據工程師提供的日期為準。

9、工程師整理檢測結果和數據，出具檢測報告書。

10、將報告以郵遞、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。

檢測優勢

1、旗下實驗室用于CMA/CNAS/ISO等資質、高新技術企業等多項榮譽證書。

2、檢測數據庫知識儲備大，檢測經驗豐富。

3、檢測周期短，檢測費用低。

4、可依據客戶需求定制試驗計劃。

5、檢測設備齊全，實驗室體系完整

6、檢測工程師 知識過硬，檢測經驗豐富。

7、可以運用36種語言編寫MSDS報告服務。

8、多家實驗室分支，支持上門取樣或寄樣檢測服務。

檢測實驗室（部分）

結語

以上為GB/T 41765-2022 碳化硅單晶位錯密度的測試方法的檢測服務介紹,如有其他疑問可聯系在線工程師！