檢測信息(部分)
問:什么是晶閘管芯片? 答:晶閘管芯片是一種半導體器件,主要用于電力控制和轉換,具有高電壓、大電流的特性。 問:晶閘管芯片的主要用途是什么? 答:廣泛應用于工業控制、電力系統、電機驅動、變頻器、UPS電源等領域。 問:晶閘管芯片檢測的主要內容有哪些? 答:檢測包括電氣性能、熱性能、機械性能及可靠性測試等。 問:檢測晶閘管芯片的意義是什么? 答:確保產品符合行業標準,提高安全性和可靠性,延長使用壽命。檢測項目(部分)
- 正向阻斷電壓:測試晶閘管在正向電壓下的阻斷能力。
- 反向阻斷電壓:測試晶閘管在反向電壓下的阻斷能力。
- 觸發電流:測試晶閘管觸發導通所需的最小電流。
- 維持電流:測試晶閘管維持導通狀態的最小電流。
- 通態壓降:測試晶閘管導通時的電壓降。
- 關斷時間:測試晶閘管從導通到完全關斷的時間。
- 熱阻:測試晶閘管的熱傳導性能。
- 結溫:測試晶閘管工作時的最高結溫。
- 浪涌電流:測試晶閘管承受瞬時大電流的能力。
- 絕緣電阻:測試晶閘管絕緣性能。
- 耐壓測試:測試晶閘管在高電壓下的穩定性。
- 漏電流:測試晶閘管在關斷狀態下的漏電流。
- 動態特性:測試晶閘管在開關過程中的動態性能。
- 靜態特性:測試晶閘管在穩態工作下的電氣性能。
- 機械強度:測試晶閘管的機械耐久性。
- 振動測試:測試晶閘管在振動環境下的穩定性。
- 沖擊測試:測試晶閘管在機械沖擊下的可靠性。
- 濕熱測試:測試晶閘管在高濕高溫環境下的性能。
- 老化測試:測試晶閘管在長期工作后的性能變化。
- EMC測試:測試晶閘管的電磁兼容性能。
檢測范圍(部分)
- 單向晶閘管
- 雙向晶閘管
- 快速晶閘管
- 逆導晶閘管
- 光控晶閘管
- 門極可關斷晶閘管
- 高頻晶閘管
- 高壓晶閘管
- 大功率晶閘管
- 低壓晶閘管
- 中功率晶閘管
- 小功率晶閘管
- 模塊化晶閘管
- 平板式晶閘管
- 螺栓式晶閘管
- 塑封晶閘管
- 陶瓷封裝晶閘管
- 金屬封裝晶閘管
- 硅控整流器
- 可控硅整流器
檢測儀器(部分)
- 高精度數字萬用表
- 示波器
- 耐壓測試儀
- 熱阻測試儀
- 浪涌電流測試儀
- 絕緣電阻測試儀
- 動態特性測試儀
- 靜態特性測試儀
- 振動測試臺
- 沖擊測試機
檢測方法(部分)
- 正向阻斷電壓測試:通過施加正向電壓測量阻斷能力。
- 反向阻斷電壓測試:通過施加反向電壓測量阻斷能力。
- 觸發電流測試:通過逐步增加電流測量觸發點。
- 維持電流測試:通過逐步減小電流測量維持點。
- 通態壓降測試:在導通狀態下測量電壓降。
- 關斷時間測試:通過快速關斷測量時間參數。
- 熱阻測試:通過加熱測量熱傳導性能。
- 結溫測試:通過紅外測溫或熱電偶測量結溫。
- 浪涌電流測試:通過瞬時大電流測量承受能力。
- 絕緣電阻測試:通過高電壓測量絕緣性能。
- 耐壓測試:通過逐步增加電壓測量耐壓能力。
- 漏電流測試:在關斷狀態下測量漏電流。
- 動態特性測試:通過快速開關測量動態性能。
- 靜態特性測試:在穩態下測量電氣性能。
- 機械強度測試:通過機械力測量耐久性。
- 振動測試:通過模擬振動環境測量穩定性。
- 沖擊測試:通過機械沖擊測量可靠性。
- 濕熱測試:通過高濕高溫環境測量性能變化。
- 老化測試:通過長期工作測量性能衰減。
- EMC測試:通過電磁干擾測量兼容性能。
檢測優勢
檢測資質(部分)
檢測流程
1、中析檢測收到客戶的檢測需求委托。
2、確立檢測目標和檢測需求
3、所在實驗室檢測工程師進行報價。
4、客戶前期寄樣,將樣品寄送到相關實驗室。
5、工程師對樣品進行樣品初檢、入庫以及編號處理。
6、確認檢測需求,簽定保密協議書,保護客戶隱私。
7、成立對應檢測小組,為客戶安排檢測項目及試驗。
8、7-15個工作日完成試驗,具體日期請依據工程師提供的日期為準。
9、工程師整理檢測結果和數據,出具檢測報告書。
10、將報告以郵遞、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。
檢測優勢
1、旗下實驗室用于CMA/CNAS/ISO等資質、高新技術企業等多項榮譽證書。
2、檢測數據庫知識儲備大,檢測經驗豐富。
3、檢測周期短,檢測費用低。
4、可依據客戶需求定制試驗計劃。
5、檢測設備齊全,實驗室體系完整
6、檢測工程師 知識過硬,檢測經驗豐富。
7、可以運用36種語言編寫MSDS報告服務。
8、多家實驗室分支,支持上門取樣或寄樣檢測服務。
檢測實驗室(部分)
結語
以上為晶閘管芯片檢測的檢測服務介紹,如有其他疑問可聯系在線工程師!
















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